金属帯の表面監視装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西教圭一郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-034767
公開番号（公開出願番号）：特開平9-229874
出願日： 1996年02月22日
公開日（公表日）： 1997年09月05日
要約：

【要約】【課題】表面処理されたステンレス鋼板および鋼板などの汚れなどの欠陥を簡易に監視すること。【解決手段】搬送される金属帯の表面に、幅方向に延びる1次元イメージセンサを配置し、その出力を第1メモリにオーバフローしつつストアしてゆき、欠陥が検出されたとき、その欠陥が検出された時点から、検出された欠陥の部分が第1メモリのストア容量のたとえば1/2のストア領域に達するまで第1メモリによるストア動作を続行し、そこで、第1メモリのストア内容を第2メモリに転送して静止画を表示する。検査者は、この静止画を見て、欠陥の種類および大きさなどを知ることができる。

請求項（抜粋）：

搬送される金属帯の幅方向に延び、金属帯の表面を検出する1次元イメージセンサと、金属帯の搬送方向の位置を検出する位置検出手段と、1次元イメージセンサと位置検出手段との出力に応答し、1次元イメージセンサの出力を、前記搬送方向の予め定める距離にわたって順次的にシフトしつつ、古いストア内容をオーバフローして消してゆく第1メモリと、第2メモリと、1次元イメージセンサの出力をレベル弁別して、金属帯の表面の欠陥を検出するレベル弁別手段と、レベル弁別手段の出力に応答し、欠陥が検出されたとき、1次元イメージセンサの出力を第1メモリに、その第1メモリのシフト方向に予め定めるストア領域に達するまで順次的にストアしてゆき、前記予め定めるストア領域に達すると、その第1メモリのストア内容を第2メモリに転送する手段と、第2メモリのストア内容を表示する表示手段とを含むことを特徴とする金属帯の表面監視装置。

IPC (3件)：

G01N 21/89 , G01B 11/00 , G01B 11/30

FI (3件)：

G01N 21/89 B , G01B 11/00 H , G01B 11/30 H

引用特許：

審査官引用 (3件)

特開平4-231851
疵検査装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-073783 出願人：新日本製鐵株式会社
特開平4-231851

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