断層画像処理装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：杉谷勉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-181218
公開番号（公開出願番号）：特開2002-006044
出願日： 2000年06月16日
公開日（公表日）： 2002年01月09日
要約：

【要約】【課題】被検体の特定の部位に関する断層画像を効率良く特定することを課題とする。【解決手段】ステップS2で再構成された基礎断層画像を、ステップS3からS5までの一連のMIP処理を施すことによって、MIP投影データが投影される。このMIP投影データは最大画素値を投影値としているので、MIP投影データから容易に微小部位に相当する部分が判断できる。また被検体Pの特定の部位に関するECT特定画像を検索するときでも、ステップS7で基礎断層画像は既に求められているので、MIP処理で求められた最大画素値座標及びMIP特定部位に基づいて、複数個の基礎断層画像を検索することなく、すぐにECT断層画像を特定することができる。

請求項（抜粋）：

被検体からの放射線検出信号に基づいて得られる投影データを再構成して被検体の断層画像を求める断層画像処理装置であって、(a)被検体からの放射線検出信号に基づいて第1の投影データを導出する第1の投影データ導出手段と、(b)前記第1の投影データ導出手段で導出された第1の投影データから3次元の第1の断層画像を再構成する第1の画像再構成手段と、(c)前記第1の画像再構成手段から再構成された第1の断層画像と、この断層画像を投影させる投影面とを結ぶ投影線分上の1点の座標を各投影線毎にそれぞれ特定する座標特定手段と、(d)前記座標特定手段で特定された各座標の画素値を投影値として第2の投影データを導出する第2の投影データ導出手段と、(e)前記第2の投影データ導出手段で導出された第2の投影データ上の部位を特定する部位特定手段と、(f)前記部位特定手段で特定された第2の投影データ上の部位と、前記投影線分上の座標とに基づいて、前記第1の断層画像の内から2次元の第2の断層画像を特定する第1の断層画像特定手段とを備えることを特徴とする断層画像処理装置。

IPC (4件)：

G01T 1/161 , A61B 6/03 360 , G06T 1/00 290 , G06T 3/00 400

FI (4件)：

G01T 1/161 C , A61B 6/03 360 D , G06T 1/00 290 A , G06T 3/00 400 J

Fターム (28件)：

2G088EE02 , 2G088FF02 , 2G088FF04 , 2G088FF07 , 2G088JJ06 , 2G088KK33 , 2G088KK35 , 4C093AA26 , 4C093CA18 , 4C093FF17 , 4C093FF37 , 4C093FF42 , 5B057AA08 , 5B057BA03 , 5B057CA02 , 5B057CA08 , 5B057CA12 , 5B057CA16 , 5B057CB02 , 5B057CB08 , 5B057CB12 , 5B057CB16 , 5B057CE10 , 5B057DA07 , 5B057DA08 , 5B057DB02 , 5B057DB09 , 5B057DC19

引用特許：

審査官引用 (5件)

医用画像診断装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-317519 出願人：株式会社日立メディコ
コンピュータ支援の3次元画像識別照合方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平7-152031 出願人：シーメンスコーポレイトリサーチインコーポレイテツド
核医学画像の位置合せ
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-139000 出願人：エルシントリミテッド

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