特許

J-GLOBAL ID：200903053869767990

歪み評価装置

発明者： 山浦 剛俊 ,  開 登喜雄 ,  塚野 正純 ,  井上 好章 ,  杉村 忠士
出願人/特許権者： 三菱重工業株式会社
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-007479
公開番号（公開出願番号）：特開平11-201734
出願日： 1998年01月19日
公開日（公表日）： 1999年07月30日
要約：

【要約】【課題】本発明は、光ファイバーにかかる歪みが変動しても正確にブリルアン周波数シフトを測定でき、光ファイバーの歪み量を高精度に測定する。【解決手段】光ファイバー2から戻ってきた光を各周波数f1 〜fn 毎に予め定められたサンプリング期間毎に受信することを周波数制御装置10によって所定回数繰り返し、この後に各周波数f1 〜fn 毎に光の強度分布の加算平均を加算平均装置11によって求め、これから得られる周波数、距離、後方ブリルアン散乱光強度の関係に基づいてピーク検出装置12によりブリルアン周波数シフトSを求め、そして歪み算出装置7により光ファィバー2の歪み量に換算する。

請求項（抜粋）：

測定用光を光ファィバーに送信して戻ってきた光を各周波数毎に受信し、これら周波数毎に光の強度分布を加算平均してその結果の散乱光強度分布に基づいて前記光ファィバーの各部分での歪み量を求める歪み評価装置において、前記光ファイバーから戻ってきた前記光を各周波数毎に予め定められたサンプリング期間毎に受信することを所定回数繰り返し、この後に前記各周波数毎に前記光の強度分布の加算平均を求める手段、を備えたことを特徴とする歪み評価装置。

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 光反射試験器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-167104   出願人：日本電信電話株式会社

審査官引用 (1件)

• 光反射試験器
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-167104   出願人：日本電信電話株式会社