特許
J-GLOBAL ID：200903053999239201
容器シール不良検査方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野田 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-185532
公開番号（公開出願番号）：特開平10-009994
出願日： 1996年06月25日
公開日（公表日）： 1998年01月16日
要約：
【要約】【課題】 密閉容器の密閉不良を効率良く検査する。【解決手段】 大漏れ検査部6では回転するテーブル14の周辺部に一定間隔で円柱状の容器4が配列される。この容器4に対して円筒状のケース20が装着され、吸引ホース24を通じケース20内の空気を吸引して容器4トップ面32に負圧が掛けられる。密閉が完全なら洩れがないため容器4のトップ面32は吸引によって上方に膨れ上がり、トップ面32は近接センサ12の先端に接触して近接センサ12は信号を出力する。制御装置はこのとき容器4は良品であると判定する。一方、漏れがある場合は吸引してもトップ面32は膨れ上がらず近接センサ12は信号を出力しない。制御装置はこのとき容器4は不良品であると判定し排除機構16を操作してその容器4を排除する。漏出検査部8では容器4の端面に負圧を掛けて内容物を漏出させ、それをカメラで撮影して良否を判定する。
請求項（抜粋）：
密閉された容器の水密性および気密性の少なくとも一方を検査する方法であって、前記容器の封止部を含む部分に負圧を掛け、前記容器の負圧領域における変形量の差を検出する、ことを特徴とする容器シール不良検査方法。
IPC (3件)：
G01M 3/32
, G01M 3/36
, G01M 3/38
G01M 3/32 T
, G01M 3/36
, G01M 3/38 H
