特許

J-GLOBAL ID：200903054175058425

TABテープの検査用冶具

発明者： 大島 敦
出願人/特許権者： 住友金属鉱山パッケージマテリアルズ株式会社
代理人 (2件)： 篠原 泰司 ,  藤中 雅之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-047096
公開番号（公開出願番号）：特開2006-234477
出願日： 2005年02月23日
公開日（公表日）： 2006年09月07日
要約：

【課題】ランプの切換えのみでTABテープの反射光検査と透過光検査とを同一装置で行い得るTABテープの検査用冶具を提供する。 【解決手段】資料台4とベース5とを備えている。資料台4は、その略中央部に検査用開口41が、その側縁に内面にTABテープ2の両側縁を保持可能な段差42aを有する壁42が設けられた保持板43と、保持板43の両端部を覆うように設けられた蓋44と、保持板43の低部外面に設けられた少なくとも一組の脚部45とから構成され、ベース5は、脚部45の下に設けられ、且つその内部にエンボススペーサー3が通過可能なスペース5aが設けられている。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

資料台とベースとを備えたTABテープの検査用冶具であって、前記資料台は、その略中央部に検査用開口が、その両側縁に内壁面にTABテープの両側端を保持可能な段差を有する壁が設けられた保持板と、該保持板の両端部を覆うように設けられた蓋と、前記保持板の低部外面に設けられた少なくとも一組の脚部とから構成され、前記ベースは、前記脚部の下に設けられ、且つその内部にエンボススペーサーが通過可能なスペースが設けられていることを特徴とするTABテープの検査用冶具。

IPC (1件)：

G01N 21/84

FI (1件)：

G01N21/84 D

Fターム (8件)：

2G051AA41 ,  2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051BA01 ,  2G051CA11 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G051DA05

引用特許：

出願人引用 (2件)

• 2層TABの製造方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-357870   出願人：住友金属鉱山株式会社
• TABテープ検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-169924   出願人：住友金属鉱山株式会社