特許
J-GLOBAL ID:200903054369021573
レーザ溶接状態計測装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
後藤 洋介 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-026902
公開番号(公開出願番号):特開2000-225481
出願日: 1999年02月04日
公開日(公表日): 2000年08月15日
要約:
【要約】【課題】 実際の生産ラインにおいてインラインで溶接欠陥の自動検出を行うのに適した溶接状態計測装置を提供すること。【解決手段】 レーザトーチ13の筐体の上方に、ワーク16に照射されるレーザ光の光軸と同軸になるようにして溶接個所からの溶接光を受光し、受光した溶接光から複数の特定波長の光を抽出して水平方向に出力する複数の光学系をケースに収容して成るセンサヘッド20を設け、前記抽出された複数の特定波長の光を用いて溶接状態の検出を行う。
請求項(抜粋):
レーザ光をレーザトーチでワークに照射して溶接を行うレーザ溶接機において、前記レーザトーチの筐体の上方に、前記ワークに照射されるレーザ光の光軸と同軸になるようにして溶接個所からの溶接光を受光し、受光した溶接光から複数の特定波長の光を抽出して水平方向に出力する複数の光学系をケースに収容して成るセンサヘッドを設け、前記抽出された複数の特定波長の光を用いて溶接状態の検出を行うことを特徴とするレーザ溶接状態計測装置。
IPC (4件):
B23K 26/00
, G01N 21/63
, G01N 21/71
, G01N 33/20
FI (4件):
B23K 26/00 P
, G01N 21/63 Z
, G01N 21/71
, G01N 33/20 P
Fターム (26件):
2G043AA03
, 2G043BA01
, 2G043CA02
, 2G043DA05
, 2G043EA10
, 2G043FA01
, 2G043GA04
, 2G043GB17
, 2G043HA01
, 2G043HA09
, 2G043JA04
, 2G043KA09
, 2G043LA03
, 2G043MA11
, 2G043NA01
, 2G043NA06
, 2G055AA01
, 2G055BA07
, 2G055FA02
, 4E068CA17
, 4E068CB08
, 4E068CB09
, 4E068CC01
, 4E068CC02
, 4E068CD08
, 4E068CD12
引用特許:
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