半導体集積回路、及びその検査方法、並びに半導体記憶装置

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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：早瀬憲一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-203097
公開番号（公開出願番号）：特開2003-140973
出願日： 2002年07月11日
公開日（公表日）： 2003年05月16日
要約：

【要約】【課題】暗号用の鍵や個人情報などの秘匿データを内部に持つ半導体集積回路に関して、半導体集積回路の検査工程などで秘匿性を維持しながら秘匿データを半導体集積回路外部に容易に読み出せる半導体集積回路を提供する。【解決手段】半導体集積回路1内にある秘匿データを読み出すための外部からアドレスを入力するアドレス入力端子3と、該アドレス入力端子3に入力されたアドレスを選択するための切替制御信号C1の入力端子7と、読み出された秘匿データD1〜Dmに対してある一定の秘密法則に従って演算を行う演算回路6と、前記演算回路6の結果E1〜Ekを半導体集積回路1の外部に出力する検査用出力端子8とを備える。

請求項（抜粋）：

秘匿データを保持する記憶部と、外部から入力された選択信号に応じて、通常使用時に前記記憶部に与えるべき第1のアドレス信号と、検査時に該記憶部に与えるべき第2のアドレス信号とのいずれかを選択し、前記記憶部に出力するアドレス信号選択部と、前記第2のアドレス信号により前記記憶部から読み出された前記秘匿データに対し、所定の秘密ルールに従った演算を行い、その演算結果を外部に出力する演算部と、を備えた、ことを特徴とする半導体集積回路。

IPC (3件)：

G06F 12/14 320 , G01R 31/28 , G01R 31/3183

FI (4件)：

G06F 12/14 320 A , G01R 31/28 B , G01R 31/28 Q , G01R 31/28 V

Fターム (14件)：

2G132AA01 , 2G132AA09 , 2G132AC02 , 2G132AG02 , 2G132AH03 , 2G132AH07 , 2G132AK07 , 2G132AK09 , 2G132AK13 , 2G132AL00 , 2G132AL11 , 5B017AA03 , 5B017BB09 , 5B017CA13

引用特許：

審査官引用 (5件)

マイクロコンピュータ及びそのテスト方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-178272 出願人：株式会社東芝
ICカード
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-118166 出願人：株式会社トーキン
特開平2-195599

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