特許
J-GLOBAL ID：200903054726420015
質量分析装置のためのイオン源
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
吉田 研二 (外2名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-599059
公開番号（公開出願番号）：特表2002-536811
出願日： 2000年02月02日
公開日（公表日）： 2002年10月29日
要約：
【要約】質量分析器のためのイオン源は、常圧イオン化装置(20)を含み、このイオン化装置(20)は、イオンブロック(50)への進入のためのイオン化されたサンプル小滴を発生させるよう構成される。ブロック(50)は、入口側オリフィス錐体(70)を入口チャネル(60)と連通して備え、更に、入口チャネル(60)と90°で交差する第一端部を有する出口チャネル(80)を備える。出口チャネル(80)の他の端部は、排出室(90)へと開き、この排出室(90)は、回転真空ポンプ(110)を介して圧送される。イオンブロック(50)のチャネル内の低減された圧力が、サンプル小滴をチャネルを通じて引き寄せる。出口側オリフィス錐体(130)によって定義される出口側オリフィスが、出口チャネル(80)に形成され、サンプルイオンは、質量分析器領域(180)へとここを通じて通る。入口チャネル及び出口チャネル間の直角の曲部が、乱流を提供し、非溶媒和を促進する。小滴の、入口側錐体(70)から出口側錐体(130)への流出もまた防止される。
請求項（抜粋）：
低圧で動作する質量分析器のためのイオン源であって、 常圧で動作可能であり、望まれるサンプルイオンを含むサンプルの流れを提供する常圧サンプルイオン化装置と、 入口側開口部と出口側開口部と排出ポートとを備えるインターフェース室であって、前記常圧サンプルイオン化装置によって提供され気体流内に浮遊して運ばれるサンプルイオンを受けるよう前記入口側開口部が構成され、サンプルイオンが前記インターフェース室から前記質量分析器に出るよう前記出口側開口部が構成されるインターフェース室と、 前記インターフェース室の前記排出ポートと連通し、前記インターフェース室の前記排出ポートの圧力を前記質量分析器の動作圧力と常圧との中間圧力に保持する真空ポンプと、 を含み、 前記インターフェース室は、前記入口側開口部から前記排出ポートへの気体及び浮遊して運ばれるサンプルイオンの流れ通路を定義し、 前記出口側開口部は、前記入口側開口部と前記排出ポートとの間の流れ通路内に配置され、 前記流れ通路は、前記入口側開口部から入る実質的に全ての気体及び浮遊して運ばれるサンプルイオンが前記出口側開口部から当該出口側開口部の直径の5倍よりも小さい距離“d”以内に流れると共に、前記入口側開口部と前記出口側開口部とが互いに直接望めないような形状を有すること、 を特徴とするイオン源。
IPC (3件)：
H01J 49/10
, G01N 27/62
, G01N 30/72
H01J 49/10
, G01N 27/62 G
, G01N 27/62 X
, G01N 30/72 C
