特許

J-GLOBAL ID：200903054887540037

変位量測定装置および方法

発明者： 渡邉 通昭
出願人/特許権者： オムロン株式会社
代理人 (1件)： 稲本 義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-357712
公開番号（公開出願番号）：特開2002-098512
出願日： 2000年11月24日
公開日（公表日）： 2002年04月05日
要約：

【要約】【課題】 低コストで、かつ、高精度に対象物体の変位量を測定することができるようにする。【解決手段】 直動変位測定装置4は、鏡面体2の鏡面2aに光を照射し、その反射光の受光点を測定する。直動変位測定装置4は、測定した反射光変位量に基づいて、対象物体1の変位量を算出する。直動変位測定装置4は、算出した変位量を、アンテナ5を介してパーソナルコンピュータ7に無線送信する。

請求項（抜粋）：

対象物体の側面に配置され、入射位置に応じて異なる方向に光を反射する反射面を有する反射手段と、前記反射手段に向けて照射する光を発光する発光手段と、前記反射手段により反射された反射光を受光する受光手段と、前記受光手段により受光された前記反射光の受光位置に基づいて、前記対象物体の変位量を算出する算出手段とを備えることを特徴とする変位量測定装置。

IPC (3件)：

G01B 11/16 ,  G08C 17/00 ,  G08C 19/00 301

FI (3件)：

G01B 11/16 Z ,  G08C 19/00 301 A ,  G08C 17/00 A

Fターム (22件)：

2F065AA02 ,  2F065AA65 ,  2F065CC00 ,  2F065CC35 ,  2F065FF44 ,  2F065FF69 ,  2F065HH13 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ09 ,  2F065LL19 ,  2F065UU05 ,  2F065UU07 ,  2F073AA21 ,  2F073AB02 ,  2F073AB11 ,  2F073BB01 ,  2F073BC02 ,  2F073CC01 ,  2F073GG01 ,  2F073GG04 ,  2F073GG08

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 光学的変位検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-327146   出願人：株式会社島津製作所
• 特開平3-234237
  
• 食害計測端末装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平10-043312   出願人：シャープ株式会社
• 特開平3-234237