特許
J-GLOBAL ID：200903055221175632
ガス状物質の分析装置及びガス状物質の分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
外川 英明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-317611
公開番号（公開出願番号）：特開2000-266646
出願日： 1999年11月09日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
要約：
【要約】【課題】建築用部材や電子材料を含む一般材料から発生する物質の評価方法に関し、常温から高温まで任意の設定温度における材料から発生する物質を、短時間で高精度に、且つ簡便に捕集できることを課題とする。【解決手段】本発明は、温度制御可能な加熱装置を具備し、加熱により若しくは常温で部材から発生したガス状物質をガス捕集剤に捕集し、分析するガス状物質の分析装置において、被測定部材収納容器と、前記捕集剤を収納するための捕集容器が、結合部材を介することなく直接接合していることを特徴とするガス状物質の分析装置及び分析方法。
請求項（抜粋）：
被測定部材を収納する測定部材収納容器と、この測定部材収納容器に連結し内部に捕集剤を有する捕集容器と、前記測定部材収納容器を加熱する加熱手段と、前記測定部材収納容器から前記捕集容器にキャリアガスを流すキャリアガス供給手段と、前記捕集剤が捕集したガス状物質を調べる測定装置とを有するガス状物質の分析装置において、前記測定部材収納容器及び前記捕集容器は共通摺りあわせ面によって直接連結されていることを特徴とするガス状物質の分析装置。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G01N 1/22 L
, G01N 1/22 C
, B01L 5/02
