特許
J-GLOBAL ID：200903055232974324

光ファイバを用いた光変位センサ及びこの光変位センサを用いた変状監視システム

発明者：
開 登喜雄

開 登喜雄 について

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山下 裕樹

山下 裕樹 について

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山口 憲幸

山口 憲幸 について


出願人/特許権者：
長菱制御システム株式会社

長菱制御システム株式会社 について


代理人 (1件)： 原崎 正
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-248300
公開番号（公開出願番号）：特開2003-057013
出願日： 2001年08月17日
公開日（公表日）： 2003年02月26日
要約：
【要約】【課題】 光ファイバセンサに極力張力を加えず、斜面変位を光ファイバの曲率変化に変換する機構を備え耐久性の向上を図ると共に、変位計測範囲および計測感度を要求に応じて簡易に変更可能なことにある。【解決手段】 光ファイバ2の曲率変化による透過光強度変化を利用して変位量を計測する光変位センサ1において、光ファイバ2を弛緩状態で配設すると共に直径の異なる2つの円盤3a,4aに光ファイバ2が数回巻かれた光非減衰円形曲線部4と光減衰円形曲線部3を備え、光非減衰円形曲線部4の円盤直径を透過光の減衰しない35mmφ以上、光減衰円形曲線部3の円盤直径を透過光の減衰する30mmφ以下とし、緊張状態で配設され変位検出箇所の変位に対応して伸縮する配線6の伸縮量で光非減衰円形曲線部4と光減衰円形曲線部3における光ファイバ2の巻き数を変化させ、計測変位により両円盤3a,4aへの光ファイバ2の巻きつけ比を変化させる機構を備えた。
請求項（抜粋）：
光ファイバの張力を軽減するため変位量を緊張状態で配設される配線の伸縮量に変換し、当該配線の伸縮を利用して光ファイバの曲率を変化させ、光ファイバの透過光強度より変位量を計測することを特徴とする光ファイバを用いた光変位センサ。
IPC (5件)：
G01B 11/16 ,  G01D 5/26 ,  G01D 21/00 ,  G01M 11/00 ,  G08B 21/10
FI (5件)：
G01B 11/16 Z ,  G01D 5/26 D ,  G01D 21/00 D ,  G01M 11/00 U ,  G08B 21/10
Fターム (46件)：
2F065AA01 ,  2F065AA65 ,  2F065BB05 ,  2F065CC14 ,  2F065FF32 ,  2F065FF58 ,  2F065GG12 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ15 ,  2F065LL02 ,  2F065PP01 ,  2F065SS09 ,  2F076BA18 ,  2F076BB09 ,  2F076BD06 ,  2F076BD17 ,  2F076BE01 ,  2F076BE05 ,  2F076BE15 ,  2F076BE17 ,  2F103BA04 ,  2F103BA37 ,  2F103BA41 ,  2F103BA43 ,  2F103CA07 ,  2F103EB01 ,  2F103EB11 ,  2F103EC09 ,  2F103ED01 ,  2F103ED06 ,  2F103GA15 ,  2G086DD01 ,  2G086DD05 ,  5C086AA12 ,  5C086AA13 ,  5C086AA14 ,  5C086BA30 ,  5C086CA24 ,  5C086CA25 ,  5C086CB35 ,  5C086DA02 ,  5C086DA07 ,  5C086DA14 ,  5C086EA11 ,  5C086EA36 ,  5C086EA50
引用特許：
審査官引用 (2件)

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