特許

J-GLOBAL ID：200903055279557080

被検眼における収差の測定装置及びその測定方法

発明者： ハイベルガー・クルト
出願人/特許権者： ハイベルガー・クルト
代理人 (3件)： 江崎 光史 ,  奥村 義道 ,  鍛冶澤 實
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-552502
公開番号（公開出願番号）：特表2008-528141
出願日： 2006年02月01日
公開日（公表日）： 2008年07月31日
要約：

【課題】レーザシステムによる被検眼の検査中に、測定結果をその場でチェックし、同時に、この測定結果を即座に補正することが可能な収差の測定装置及びその測定方法を提供すること。【解決手段】被検眼Aの光学システムが半導体レーザLD1から発せられた測定用レーザ光により広範囲に亘って検診され、前記被検眼で反射した結像光が測定及び評価される、被検眼の収差の測定方法において、治療用レーザ光源LD2を設け、これから発せられる、前記被検眼Aの角膜及び/又は水晶体及び/又は網膜の外科的な矯正のための治療用レーザ光を、前記半導体レーザLD1と前記被検眼Aの間の前記測定用レーザ光或いは前記結像光の光路に対して照射する。

請求項（抜粋）：

被検眼の収差の測定方法であって、 被検眼(A)の光学システムが半導体レーザ(LD1)から発せられた測定用レーザ光により広範囲に亘って検診され、前記被検眼で反射した結像光が測定及び評価される、前記測定方法において、 治療用レーザ光源(LD2)を設け、これから発せられる、前記被検眼(A)の角膜及び/又は水晶体及び/又は網膜の外科的な矯正のための治療用レーザ光を、前記半導体レーザ(LD1)と前記被検眼(A)の間の前記測定用レーザ光或いは前記結像光の光路に対して照射することを特徴とする測定方法。

IPC (3件)：

A61B 3/10 ,  A61B 3/12 ,  A61B 3/113

FI (5件)：

A61B3/10 M ,  A61B3/10 H ,  A61B3/10 R ,  A61B3/12 F ,  A61B3/10 B

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 米国特許出願公開第2005/0007551号明細書
  

審査官引用 (2件)

• 光凝固装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-143109   出願人：興和株式会社
• 特開昭52-052634