特許

J-GLOBAL ID：200903055507503440

構造物の欠陥評価方法

発明者： 角 谷 利 恵 ,  淺 野 政 之 ,  斎 藤 利 之
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (6件)： 吉武 賢次 ,  玉真 正美 ,  橘谷 英俊 ,  佐藤 泰和 ,  吉元 弘 ,  川崎 康
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-007948
公開番号（公開出願番号）：特開2006-194782
出願日： 2005年01月14日
公開日（公表日）： 2006年07月27日
要約：

【課題】 亀裂の進展に関する構造物内部の残留応力を求め得る構造物の欠陥評価方法を提供すること。【解決手段】 構造物1に生じた割れ2の発生、進展を評価する方法において、前記構造物の表面残留応力を測定し、前記表面残留応力から前記構造物の内部における残留応力の分布を計算し、前記表面および前記内部の各残留応力の分布を用いて応力腐食割れや疲労に起因する割れの発生および進展を予測し、前記構造物の健全性を評価する構造物の欠陥評価方法。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

構造物に生じた割れの発生、進展を評価する方法において、 前記構造物の表面残留応力を測定し、 前記表面残留応力から前記構造物の内部における残留応力の分布を計算し、 前記表面および前記内部の各残留応力の分布を用いて応力腐食割れや疲労に起因する割れの発生および進展を予測し、前記構造物の健全性を評価する 構造物の欠陥評価方法。

IPC (2件)：

G21C 17/00 ,  G21C 17/003

FI (2件)：

G21C17/00 P ,  G21C17/00 E

Fターム (5件)：

2G075CA04 ,  2G075CA13 ,  2G075EA03 ,  2G075FB15 ,  2G075GA21

引用特許：

出願人引用 (2件)

• プラントの監視診断方法及び監視診断システム並びにこれを備えたプラント
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-119887   出願人：株式会社日立製作所
• 予防保全方法及び予防保全装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-180248   出願人：株式会社日立製作所