特許
J-GLOBAL ID:200903055560359033

分光装置および分光方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 長谷川 芳樹 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-025841
公開番号(公開出願番号):特開2002-228521
出願日: 2001年02月01日
公開日(公表日): 2002年08月14日
要約:
【要約】【課題】 被測定光が微弱であっても簡易な構成で被測定光のスペクトルを測定することができる分光装置を提供する。【解決手段】 被測定光31は、入射端32、光ファイバー33、コリメートレンズ34、グランテーラープリズム35、ビームサンプラー36、λ/2板37、可変NDフィルター38、光路遮断器39を経て偏光ビームスプリッタ46に到達する。波長可変光源40から出力される参照光41は、コリメーターレンズ42、グランテーラープリズム43、λ/2板44、光路遮断器45を経て偏光ビームスプリッタ46に到達する。偏光ビームスプリッタ46から出力された被測定光31および参照光41は、λ/2板47および偏光ビームスプリッタ48を経て光検出部53により検出され、この検出信号は差分・増幅・整形される。光検出部53からの電気出力58は、処理部54で統計処理及び演算される。
請求項(抜粋):
被測定光を入力し2分岐して第1の光および第2の光とする分岐部と、前記第1の光および前記第2の光それぞれを受光して、両者の強度の差を検出する光検出部と、前記光検出部により検出された強度差の分布を求め、この分布に基づいて前記被測定光のスペクトルを求める処理部と、を備えることを特徴とする分光装置。
IPC (3件):
G01J 3/12 ,  G01J 3/447 ,  G01J 9/02
FI (3件):
G01J 3/12 ,  G01J 3/447 ,  G01J 9/02
Fターム (14件):
2G020BA20 ,  2G020CA12 ,  2G020CA15 ,  2G020CB05 ,  2G020CB23 ,  2G020CC22 ,  2G020CC24 ,  2G020CC47 ,  2G020CC48 ,  2G020CD03 ,  2G020CD15 ,  2G020CD24 ,  2G020CD36 ,  2G020CD51
引用特許:
審査官引用 (4件)
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