特許
J-GLOBAL ID:200903005308321956
光波長検出方法及び光波長検出装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
吉田 精孝
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-191390
公開番号(公開出願番号):特開2001-021415
出願日: 1999年07月06日
公開日(公表日): 2001年01月26日
要約:
【要約】【課題】 可動部品や複雑な電子装置が不要であり、高い測定分解能を安定して得ることができ、サブミリメーターサイズの超小型化も可能な光波長検出方法及び光波長検出装置を提供すること。【解決手段】 測定しようとする単色性入力光信号I(λ)をビームスプリッタ1で2つのビームに分割し、異なる周波数特性を有する2つのスペクトルフィルタ付き光検出器2,3に送り、それぞれの出力を処理装置4により入力信号光強度による変化のない値x(λ)に変換し、波長λを決定する。
請求項(抜粋):
被測定光ビームを第一、第二の光ビームに二分割し、前記第一の光ビームの光強度を測定波長域で単調な第一の光波長依存性に従って変換し、前記第二の光ビームの光強度を測定波長域で単調な第二の光波長依存性に従って変換し、前記二つの変換後の光強度を除算することを特徴とする光波長検出方法。
IPC (2件):
FI (2件):
Fターム (9件):
2G020AA02
, 2G020AA03
, 2G020AA04
, 5F072AB13
, 5F072AB20
, 5F072AC02
, 5F072AK06
, 5F072JJ20
, 5F072YY20
引用特許:
審査官引用 (6件)
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レーザ光源の波長モニタ装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-053127
出願人:サンテック株式会社
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光波長計
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-215220
出願人:横河電機株式会社
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半導体レーザ装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-078688
出願人:株式会社島津製作所
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特開昭62-148818
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レーザ放射波長の監視および制御方法および装置
公報種別:公表公報
出願番号:特願2000-532897
出願人:ユニフェーズ・テレコミュニケーションズ・プロダクツ・インコーポレイテッド
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特開昭62-148818
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