特許

J-GLOBAL ID：200903055790772282

低インダクタンス測定用治具

発明者： 山田 光広
出願人/特許権者： 日本航空電子工業株式会社
代理人 (1件)： 八幡 義博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-030856
公開番号（公開出願番号）：特開2000-230951
出願日： 1999年02月09日
公開日（公表日）： 2000年08月22日
要約：

【要約】【課題】 nHオーダーの微小なインダクタンスを、所定の接触圧力、測定点間距離で高精度にかつ容易に測定できるようにする。【解決手段】 接触・接続導体11a と外部導体12a とを備えた接触・接続コネクタ10a を台座20に保持固定する。接触・接続導体11b と外部導体12b とを備えた接触・接続コネクタ10b を、台座20上に移動可能なように保持された可動ステージ30に、接触・接続導体11a,11b の一端が互いに相対向するように保持固定する。外部導体12a,12b 間は接地導通部材50で電気的に接続する。マイクロメータヘッド41を備えた測定点間隔調整計測機構部40により可動ステージ30を移動させて接触・接続導体11a,11b 間の距離を調整、計測し、接触・接続導体11a,11b 間に被測定部材を挟み込み、他端側は測定装置に直接接続する。

請求項（抜粋）：

被測定部材の2点間の微小なインダクタンスを測定するために、前記被測定部材の2点に接触してこれら2点をインダクタンス測定装置に接続する低インダクタンス測定用治具であって、次の各構成を有することを特徴とする低インダクタンス測定用治具。(イ)一端が前記被測定部材のインダクタンス測定点2点のうちの一方に接触し他端が前記インダクタンス測定装置に接続される接触・接続導体を備えた第1の接触・接続コネクタ(ロ)前記第1の接触・接続コネクタを保持、固定する台座(ハ)一端が前記被測定部材のインダクタンス測定点2点のうちの他方に接触し他端が前記インダクタンス測定装置に接続される接触・接続導体を備えた第2の接触・接続コネクタ(ニ)前記第2の接触・接続コネクタを、その接触・接続導体の一端と前記第1の接触・接続コネクタの接触・接続導体の一端とが相対向するように保持、固定し、前記台座上に移動可能なように保持された可動ステージ(ホ)マイクロメータヘッドを備え、このマイクロメータヘッドにより前記可動ステージを移動させて前記第1の接触・接続コネクタの接触・接続導体と前記第2の接触・接続コネクタの接触・接続導体との間の距離を調整し、これら接触・接続導体間に前記被測定部材を挟み込んで保持すると同時に、これら接触・接続導体間の距離を計測、表示する測定点間隔調整計測機構部(ヘ)前記第1の接触・接続コネクタの外部導体と前記第2の接触・接続コネクタの外部導体との間を電気的に接続する接地導通用部材

IPC (2件)：

G01R 27/26 ,  G01R 1/073

FI (2件)：

G01R 27/26 L ,  G01R 1/073 A

Fターム (17件)：

2G011AA10 ,  2G011AB01 ,  2G011AB09 ,  2G011AC02 ,  2G011AC06 ,  2G011AC32 ,  2G011AF06 ,  2G028AA01 ,  2G028AA04 ,  2G028BF08 ,  2G028CG06 ,  2G028DH06 ,  2G028FK01 ,  2G028FK05 ,  2G028HM05 ,  2G028HN01 ,  2G028HN09

引用特許：

審査官引用 (3件)

• マイクロ波帯用プロービング装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-121808   出願人：三菱電機株式会社
• 特開平2-291975
  
• 特開平3-129499