特許

J-GLOBAL ID：200903055809548400

センサ信号処理の同期検波回路

発明者： 増田 誉 ,  吉川 康秀
出願人/特許権者： 株式会社山武
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-184428
公開番号（公開出願番号）：特開2003-004482
出願日： 2001年06月19日
公開日（公表日）： 2003年01月08日
要約：

【要約】【課題】 センサの測定のための回路素子変動による雑音成分を消去し、センサで得られた被測定物理量を得るセンサの測定精度向上を目的とする。【解決手段】被測定物理量の変化に応じて特性が変化するセンサ部と、三角関数波状の発振信号を励起する発振部と、前記発振部の出力側と前記センサ部の入力側との間に接続され前記センサ部に発振信号を印加することで得られる信号変化に対し演算処理を行なう演算部を備えたセンサ信号処理回路において、前記演算部により得られた演算出力信号を前記発振信号の周期と同期して、演算出力信号波を1/2周期ごとに切り換えて得た二信号の各々を積分器により平均値を求めて、さらに平均後の信号の差分を得ることにより、当該センサで得られた被測定物理量を得ることを特徴とするセンサ信号処理のための同期検波回路。

請求項（抜粋）：

被測定物理量の変化に応じて特性が変化するセンサ部と、三角関数波状の発振信号を励起する発振部と、前記発振部の出力側と前記センサ部の入力側との間に接続され前記センサ部に発振信号を印加することで得られる信号変化に対し演算処理を行なう演算部を備えたセンサ信号処理回路において、前記演算部により得られた演算出力信号を前記発振信号の周期と同期して、演算出力信号波を1/2周期ごとに切り換えて得た二信号の各々を積分器により平均値を求めて、さらに平均後の信号の差分を得ることにより、当該センサで得られた被測定物理量を得ることを特徴とするセンサ信号処理のための同期検波回路。

IPC (4件)：

G01D 5/24 ,  G01D 5/12 ,  G01L 9/12 ,  H03D 1/22

FI (5件)：

G01D 5/12 C ,  G01D 5/12 N ,  G01L 9/12 ,  H03D 1/22 Z ,  G01D 5/24 W

Fターム (16件)：

2F055AA40 ,  2F055BB20 ,  2F055CC02 ,  2F055DD20 ,  2F055EE25 ,  2F055FF02 ,  2F055FF13 ,  2F055GG44 ,  2F055GG49 ,  2F077AA13 ,  2F077AA16 ,  2F077AA21 ,  2F077HH13 ,  2F077TT82 ,  2F077UU22 ,  2F077UU24

引用特許：

審査官引用 (4件)

• センサ信号処理回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-210471   出願人：株式会社山武
• 位置検出装置及び方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-073944   出願人：株式会社ワコム
• 表面形状認識用センサ回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-157755   出願人：日本電信電話株式会社
• 特開昭62-121312