特許
J-GLOBAL ID：200903056168242353
極微小磁区観察方法と極微小磁区観察装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松隈 秀盛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-085242
公開番号（公開出願番号）：特開平9-218213
出願日： 1996年04月08日
公開日（公表日）： 1997年08月19日
要約：
【要約】【課題】 磁場印加による磁区の変化の磁気力顕微鏡による観察を、観測点の繁雑な位置決めの手順を省略して行うことができるようにする。【解決手段】 極微小磁区観察試料12の配置部と、試料表面に対向して配置される磁気力顕微鏡の探針70と、この探針70が配置された状態で、試料に外部磁場を印加する外部磁場印加手段20とを具備し、磁気力顕微鏡の原理に基いて試料表面の極微小磁区の観察を行う構成とする。
請求項（抜粋）：
被観察試料表面に磁気力顕微鏡の探針を対向させた状態で、上記試料に外部磁場を印加し、該外部磁場印加による上記試料表面の極微小磁区の磁化の変化を磁気力顕微鏡の原理に基いて観察することを特徴とする極微小磁区観察方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N 37/00 H
, G01N 27/72
