特許
J-GLOBAL ID：200903056204473081
半導体装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (1件)：
堀口 浩
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-205430
公開番号（公開出願番号）：特開2006-031133
出願日： 2004年07月13日
公開日（公表日）： 2006年02月02日
要約：
【課題】 2つの入力クロック信号に対してその異常を検出することができる半導体装置を実現する。【解決手段】 本発明の半導体装置は、同期していない周期の異なるクロック信号fcおよびfsが入力され、fsに基づく所定の期間、fcのクロック数をカウントし、当該カウント値scを出力する計数部11と、計数部11からのscが所定の範囲にない場合に、fcまたはfsの異常を示すエラー信号errを出力する判定部12を有する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
同期していない周期の異なる第1および第2のクロック信号が入力され、前記第2のクロック信号に基づく所定の期間、前記第1のクロック信号のクロック数をカウントし、当該カウント値を出力する計数手段と、
前記計数手段からの前記カウント値が所定の範囲にない場合に、前記第1または前記第2のクロック信号の異常を示すエラー信号を出力する判定手段を有することを特徴とする半導体装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G06F1/04 302Z
, G06F1/04 310Z
