部品位置認識装置

発明者： , , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：香山秀幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-120075
公開番号（公開出願番号）：特開平8-172300
出願日： 1995年05月18日
公開日（公表日）： 1996年07月02日
要約：

【要約】【目的】この発明の目的は、少なくとも2つのリードを有する電子部品の位置を高精度に認識できる部品位置認識装置を提供することにある。【構成】部品位置認識装置において、電子部品の濃淡画像を格納する部品画像記憶手段101、部品画像記憶手段101内における、電子部品画像の少なくとも2つのリード2のそれぞれ全体画像を別々に含むように設定された複数の領域内の画像データに基づいて、各領域内のリードの位置を求めるリード位置演算手段103、104、105、106、ならびにリード位置演算手段によって求められた各領域内のリードの位置に基づいて、電子部品の位置を求める部品位置算出手段107を備えていることを特徴とする。

請求項（抜粋）：

複数のリードを有する電子部品の位置を認識する部品位置認識装置において、上記電子部品の濃淡画像を格納する部品画像記憶手段、上記部品画像記憶手段内における、上記電子部品画像の少なくとも2つのリードのそれぞれ全体画像を別々に含むように設定された複数の領域内の画像データに基づいて、上記各領域内のリードの位置を求めるリード位置演算手段、ならびに上記リード位置演算手段によって求められた上記各領域内のリードの位置に基づいて、上記電子部品の位置を求める部品位置算出手段、を備えていることを特徴とする部品位置認識装置。

IPC (4件)：

H05K 13/04 , G01B 11/00 , G06T 7/00 , G06T 7/60

FI (2件)：

G06F 15/62 405 Z , G06F 15/70 350 B

引用特許：

審査官引用 (2件)

ICの傾き検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平4-174784 出願人：株式会社イーゼル, シャープ株式会社
特公平2-026261

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