特許
J-GLOBAL ID：200903056417159968
構造物検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
,
代理人 (1件)：
北村 周彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-219325
公開番号（公開出願番号）：特開2009-053001
出願日： 2007年08月27日
公開日（公表日）： 2009年03月12日
要約：
【課題】検査作業を容易に行うと共に、検査精度の向上を図る。【解決手段】本発明は、構造物2の表面の損傷部分を検査するための構造物検査装置1であって、構造物2の表面の画像を撮影するための撮像手段3と、撮像手段3の光学的な中心Pから構造物2の表面までの距離を計測するための距離計測手段4と、距離計測手段4により計測した撮像手段3の光学的な中心Pから構造物2の表面までの距離データと撮像手段3の光学的な中心Pから焦点までの距離とに基づき生成したクラックスケールを撮像手段3により撮影した構造物2の表面の損傷部分の画像上に重ね合わせることにより構造物2の表面の損傷部分の実際の寸法を計測する制御手段11と、を備えていることを特徴とする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
構造物の表面の損傷部分を検査するための構造物検査装置であって、
前記構造物の表面の画像を撮影するための撮像手段と、
該撮像手段の光学的な中心から前記構造物の表面までの距離を計測するための距離計測手段と、
該距離計測手段により計測した前記撮像手段の光学的な中心から前記構造物の表面までの距離データと前記撮像手段の光学的な中心から焦点までの距離とに基づき生成したクラックスケールを前記撮像手段により撮影した前記構造物の表面の損傷部分の画像上に重ね合わせることにより前記構造物の表面の損傷部分の実際の寸法を計測する制御手段と、
を備えていることを特徴とする構造物検査装置。
IPC (3件)：
G01N 21/88
, G01B 11/30
, G01B 11/02
G01N21/88 Z
, G01B11/30 A
, G01B11/02 H
2F065AA06
, 2F065AA21
, 2F065AA49
, 2F065CC14
, 2F065CC40
, 2F065FF04
, 2F065FF61
, 2F065GG04
, 2F065JJ03
, 2F065LL46
, 2F065SS02
, 2G051AA90
, 2G051AB03
, 2G051AC21
, 2G051CA20
, 2G051CC20
, 2G051EA21
, 2G051EB09
