特許
J-GLOBAL ID:200903056611907800

走査光学装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 日比谷 征彦
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-187001
公開番号(公開出願番号):特開2001-013434
出願日: 1999年06月30日
公開日(公表日): 2001年01月19日
要約:
【要約】【課題】 半導体レーザー光源に光束が戻ることを防止して、光学性能を向上させる。【解決手段】 絞り33の面33bの角度が90 ゚の場合には、面33bで反射した光束が、出射された光路と同じ軌跡で半導体レーザー光源21ヘ戻る戻り光Cとなるために、半導体レーザー光源21の光量を制御する回路基板28は光量を誤検知して誤った光量となる制御を行うことになる。従って、絞り33の絞り孔33aを有する面33bを半導体レーザー光源21の光軸に対して角度θを有するようにすれば、絞り33に反射した戻り光Cを半導体レーザー光源21に戻らないようにすることができる。
請求項(抜粋):
半導体レーザーを使用した光源部と、該光源部からの光束を偏向する偏向器と、前記光源部から出射した発散光を前記偏向器に集光する第1のレンズと、前記偏向器で偏向した光束を所定面上に集光する第2のレンズとを有する走査光学装置において、前記第1のレンズと前記偏向器の間の光路中に絞りを配置し、該絞りを形成する面を前記光源部からの光束の光軸に対して非垂直方向に配置したことを特徴とする走査光学装置。
Fターム (6件):
2H045AA01 ,  2H045CA67 ,  2H045CB42 ,  2H045DA02 ,  2H045DA04 ,  2H045DA41
引用特許:
審査官引用 (5件)
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