特許

J-GLOBAL ID：200903056613629549

電磁波による積層状物体計数装置及び計数方法

発明者： 宮崎 淳吾 ,  尾内 敏彦
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 加藤 一男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-393248
公開番号（公開出願番号）：特開2005-157601
出願日： 2003年11月25日
公開日（公表日）： 2005年06月16日
要約：

【課題】積層状態にある物体に電磁波を入射するという簡単な構成で、物体の積層数を計数する積層状物体計数装置ないし方法である。【解決手段】積層状物体計数装置ないし方法では、積層状態にある物体(積層状物体)12の上下面のうち少なくともどちらか一方に対して電磁波を入射し、積層状物体12の各物体の界面での電磁波の反射で生成された電磁波を受信したり、電磁波が積層状物体12を透過して生成された透過波を受信したりして、積層状物体12の積層数を計数する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

積層状態にある物体(積層状物体)の上下面の一方に対して電磁波を入射する発振手段と、積層状物体の各物体の界面での前記電磁波の反射で生成された電磁波を受信する受信手段と、前記受信手段によって得られた反射電磁波信号に基づき前記積層状物体の計数を行う処理手段を有することを特徴とする積層状物体計数装置。

IPC (3件)：

G06M9/00 ,  G01B15/02 ,  G01N22/00

FI (5件)：

G06M9/00 Z ,  G01B15/02 Z ,  G01N22/00 L ,  G01N22/00 S ,  G01N22/00 W

Fターム (20件)：

2F067AA27 ,  2F067BB27 ,  2F067EE05 ,  2F067HH01 ,  2F067JJ01 ,  2F067KK06 ,  2F067KK08 ,  2F067RR21 ,  2F067RR24 ,  2G059AA05 ,  2G059BB10 ,  2G059CC20 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE20 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059KK10 ,  2G059MM01 ,  2G059NN10

引用特許：

出願人引用 (2件)

• シート体計数装置および計数方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2001-227145   出願人：富士写真フイルム株式会社
• カード枚数検査方法及び検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-027860   出願人：凸版印刷株式会社

審査官引用 (1件)

• 撮像装置及び方法
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2001-563888   出願人：テラビューリミテッド