特許
J-GLOBAL ID：200903056644722300
OTDR装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐藤 祐介
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-323776
公開番号（公開出願番号）：特開平11-142293
出願日： 1997年11月10日
公開日（公表日）： 1999年05月28日
要約：
【要約】【課題】 被測定光ファイバの各位置での損失特性等を測定するだけでなく、被測定光ファイバの種類を自動判別する。【解決手段】 パルス発生器11のパルス出力をレーザ発生器12に送って光パルスを発生して光方向性結合器13を介してダミー光ファイバ14の一端に入射し、この光ファイバ14に接続された被測定光ファイバ15に光パルスを伝播させ、その戻り光をダミー光ファイバ14および光方向性結合器13を経て受光器21に導き、その受光出力を上記のパルス出力で制御されたA/D変換器22でサンプリング・デジタル化し、平均化処理回路23で処理し、そのデータのうちのダミー光ファイバ14と被測定光ファイバ15との接続点近傍の受光レベルデータを演算処理装置26に取り込み、その接続点近傍での受光レベル差を計算し、記憶装置27に蓄積されたデータを参照してそのレベル差から被測定光ファイバ15の種類を判別する。
請求項（抜粋）：
光パルスを発生する手段と、該光パルスをダミー光ファイバを介して被測定光ファイバの一端に入射する手段と、該被測定光ファイバの一端に戻ってきた光を上記のダミー光ファイバを介して受光する受光手段と、該受光手段の出力を、上記の光パルス入射時点から一定時間ごとにサンプリングして受光レベルデータを得るデータ採取手段と、該受光レベルデータからダミー光ファイバと被測定光ファイバの接続点近傍のレベル差を求める手段と、該レベル差から被測定光ファイバの種類を判定する手段とを有することを特徴とするOTDR装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01M 11/02 J
, G01M 11/00 U
