特許

J-GLOBAL ID：200903056706021400

曇り点測定方法及び曇り点計

発明者： 森 雅之 ,  大久保 秀一
出願人/特許権者： 株式会社ジャパンエナジー
代理人 (1件)： 並川 啓志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-068979
公開番号（公開出願番号）：特開平8-240544
出願日： 1995年03月03日
公開日（公表日）： 1996年09月17日
要約：

【要約】【構成】測定対象試料と接液する検出エリアに光を入射する入射路、及び検出エリアからの散乱光を検出するための複数の出射路から成る導波構造の導波路を具備し、その導波路に当接して冷却手段または加熱手段を備えていることを特徴とする曇り点計及び試料へ光を入射しながら測定対象試料を所定の温度範囲で冷却または加熱し、試料中の析出物の析出による入射光の散乱の変化を検知することにより曇り点を測定することを特徴とする曇り点測定方法。【効果】高精度で高速の曇り点の測定が可能となる。

請求項（抜粋）：

測定対象試料へ光を入射しながら測定対象試料を所定の温度範囲で冷却または加熱し、測定対象試料中の析出物の析出による入射光の散乱の変化を検知することにより曇り点を測定することを特徴とする曇り点測定方法。

IPC (2件)：

G01N 25/04 ,  G01N 21/47

FI (2件)：

G01N 25/04 D ,  G01N 21/47 C

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭58-007550
  
• 特開昭61-017941
  
• ガス中の微量水分測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-357407   出願人：大阪酸素工業株式会社