特許

J-GLOBAL ID：200903056791369712

断層検査装置

発明者： 金 亨哲 ,  卞 鍾垠 ,  金 晋永 ,  金 昌孝 ,  趙 榮錫 ,  高 國原 ,  蘆 榮俊
出願人/特許権者： 三星電子株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-070721
公開番号（公開出願番号）：特開2000-111502
出願日： 1999年03月16日
公開日（公表日）： 2000年04月21日
要約：

【要約】【課題】 映像増倍管の映像面上のいずれの位置に対しても歪曲のない映像を取得できる断層映像装置を提供する。【解決手段】 本発明の断層検査装置は、被検査物Eが搭載される搭載テーブル10と、同一平面上の多様な位置で搭載テーブル10に搭載された被検査物Eに対してX線を照射するX線照射器20と、被検査物Eを透過したX線映像を可視映像に変化させる映像増倍管30と、光の経路を屈折させるプリズム122と、プリズム122に連結され映像増倍管30の映像面のうち特定領域の映像が選択されるようにプリズム122の姿勢を調整するための手段を持つビューセレクター40と、ビューセレクター40により選択された領域の映像を得るためのカメラ50とを含むことを特徴とする。

請求項（抜粋）：

被検査物が搭載される搭載テーブルと、同一平面上の多様な位置で前記搭載テーブルに搭載された被検査物に対してX線を照射するX線照射器と、前記被検査物を透過したX線映像を可視映像に変化させる映像増倍管と、光の経路を屈折させるプリズムと、前記プリズムに連結され前記映像増倍管の映像面のうち特定領域の映像が選択されるように前記プリズムの姿勢を調整するための手段を持つビューセレクターと、前記ビューセレクターにより選択された領域の映像を得るためのカメラとを含むことを特徴とする断層検査装置。

IPC (2件)：

G01N 23/04 ,  G02B 5/04

FI (2件)：

G01N 23/04 ,  G02B 5/04 F

Fターム (11件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA06 ,  2G001JA20 ,  2G001KA03 ,  2H042CA00 ,  2H042CA17

引用特許：

審査官引用 (1件)

• X線断層撮影方法及びその装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-158121   出願人：株式会社日立製作所