特許
J-GLOBAL ID：200903056844165081

対基板作業結果検査装置、対基板作業結果検査方法、電気回路製造システムおよび電気回路製造方法

発明者：
河合 孝昌

河合 孝昌 について

, 
三井 一夫

三井 一夫 について


出願人/特許権者：
富士機械製造株式会社

富士機械製造株式会社 について


代理人 (1件)： 神戸 典和
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-314304
公開番号（公開出願番号）：特開2003-124699
出願日： 2001年10月11日
公開日（公表日）： 2003年04月25日
要約：
【要約】【課題】 対回路基板作業の結果を検査する場合において、効率のよい検査作業を行う。【解決手段】 例えば、電子部品装着の結果を検査する場合において、装着した吸着ノズル、フィーダ等に関する実行デバイス情報等の装着条件情報、リカバリーに関する情報等の装着結果情報等に基づいて、検査作業の作業手順を決定する。さらに、作業デバイス履歴情報等の履歴情報に基づいて作業手順を決定することもできる。例えば、装着不良率の高いノズルで行った装着対象、長期使用しているフィーダが関与する装着対象等を、装着不良が発生する可能性の高い対象として検査対象に選定して検査作業を行う。また、検査頻度が一定となるようにあるいは設定された時間内で検査が行えるように、他の対象を追加選定する、可及的短時間で検査が終了するように検査順序を決定する等の態様での実施も可能である。
請求項（抜粋）：
回路基板に対して行われた対回路基板作業の結果を検査する対基板作業結果検査装置であって、検査作業を行う検査作業装置と、決定された作業手順に従ってその検査作業装置を作動させる作業制御部を備えた検査制御装置とを含み、その検査制御装置が、回路基板に対して行われた前記対回路基板作業の作業情報である対基板作業情報に基づいて、その回路基板に対する検査作業の作業手順を決定する作業手順決定部を含むことを特徴とする対基板作業結果検査装置。
IPC (3件)：
H05K 13/08 ,  G01N 21/93 ,  G01N 21/956
FI (3件)：
H05K 13/08 D ,  G01N 21/93 ,  G01N 21/956 B
Fターム (13件)：
2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051AC04 ,  2G051AC19 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051CD04 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA14 ,  2G051EB01 ,  2G051EB02 ,  2G051FA10
引用特許：
審査官引用 (2件)
  • 実装検査装置
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-140593   出願人：松下電器産業株式会社
  • 装着後部品検査方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-324222   出願人：松下電器産業株式会社

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