特許
J-GLOBAL ID:200903056905927923
試料チップ
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (10件):
岡部 正夫
, 加藤 伸晃
, 産形 和央
, 臼井 伸一
, 藤野 育男
, 越智 隆夫
, 本宮 照久
, 高梨 憲通
, 小林 恒夫
, 齋藤 正巳
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2003-546068
公開番号(公開出願番号):特表2005-509883
出願日: 2002年11月15日
公開日(公表日): 2005年04月14日
要約:
試料チップは、本体部と、本体部上に配置されるカバー部とを含み、本体部の上面は、物体が検査および操作のために光トラップにより導入される複数のマイクロチャネルを含む。1つの実施形態では、マイクロチャネルのうちの少なくとも1つは、物体を保持するバリアを含み、それにより、物体は光トラップにより保持および操作されることができる。別の実施形態では、マイクロチャネルのうちの少なくとも1つは、バリアが配置される試料チャンバを含む。マイクロチャネルの数およびその構成は変化してよく、マイクロチャネルは交差していてもよく、試料チャンバはその交点に配置される。バリアは、試料チャンバと一体形成されるかまたは試料チャンバに取り外し可能に配置される複数のバリア構造のうちの少なくとも1つを含む。バリア構造は、異なる形状をとってもよく、形状の任意の組み合わせであってもよい。
請求項(抜粋):
本体部と、
該本体部およびカバー部の内部に複数のマイクロチャネルが形成され、該本体部上に配置されているカバー部と、
物体が導入される試料チャンバであって、前記マイクロチャネルのうちの少なくとも1つに配置され、かつ光トラップを生成する装置の作業焦点領域内に位置付けられて、該物体の実験および操作が該光トラップにより行われる、試料チャンバと
を含む試料チップ。
IPC (4件):
G01N37/00
, C12M1/00
, G01N21/64
, G02B21/34
FI (5件):
G01N37/00
, G01N37/00 101
, C12M1/00 A
, G01N21/64 Z
, G02B21/34
Fターム (14件):
2G043AA03
, 2G043BA16
, 2G043CA03
, 2G043DA05
, 2G043EA01
, 2G043FA01
, 2G043FA02
, 2G043HA01
, 2G043KA09
, 2H052AE13
, 4B029AA07
, 4B029AA27
, 4B029CC01
, 4B029FA01
引用特許:
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