特許

J-GLOBAL ID：200903056976044275

エッジ検出方式

発明者： 久保 和俊
出願人/特許権者： 株式会社ミツトヨ
代理人 (1件)： 伊丹 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-068143
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257422
出願日： 1996年03月25日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：

【要約】【課題】 被測定画像の状態の影響を受けずに正確な計測を安定して行うことができるエッジ検出方式を提供する。【解決手段】 撮像された被測定対象の画像を微分して生成される微分画像内のピークの鋭さに応じてエッジ位置の検出処理を使い分ける。具体的には、画素数Nがmより小さければ、微分画像内のピークが急峻に変化していると判断し、図5(a)に示すように、しきい値Tより大きな値を持つ画素に線形関数などの近似曲線を当てはめ、この近似曲線のピーク位置を算出し、これをエッジ位置Qとして決定する。一方、画素数Nがmより大きければ、微分画像内のピークが緩やかに変化していると判断し、図5(b)に示すように、ピーク位置P周辺の微分画像の重心Rを算出し、これをエッジ位置Qとして決定する。

請求項（抜粋）：

被測定対象を撮像する撮像手段と、この撮像手段で撮像された被測定対象の画像に含まれるエッジのおおよその位置を検出するエッジ概略位置検出手段と、前記被測定対象の画像を微分して微分画像を得る微分手段と、前記エッジ概略位置検出手段で検出されたエッジのおおよその位置の近傍で前記微分画像のピーク値を探索する微分ピーク値探索手段と、この手段で探索された微分画像のピーク値の周辺の微分曲線が急峻に変化するか否かを判別する曲線判別手段と、この手段でピーク値の周辺の微分曲線が急峻であると判別された場合には、当該微分曲線に近似曲線を当てはめこの近似曲線のピーク位置をエッジ位置として決定し、前記ピーク値の周辺の微分曲線がなだらかであると判別された場合には、当該ピーク値の周辺の微分画像の重心をエッジ位置として決定するエッジ位置決定手段とを備えたことを特徴とするエッジ検出方式。

IPC (2件)：

G01B 11/00 ,  G06T 9/20

FI (2件)：

G01B 11/00 H ,  G06F 15/70 335 Z

引用特許：

出願人引用 (2件)

• エッジ位置検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-195665   出願人：株式会社東芝
• 特開昭60-006806