特許
J-GLOBAL ID：200903057166280270

電気機器の絶縁診断方法

発明者：
岡澤 周

岡澤 周 について

, 
三木 伸介

三木 伸介 について


出願人/特許権者：
三菱電機株式会社

三菱電機株式会社 について


代理人 (4件)： 大岩 増雄 ,  児玉 俊英 ,  竹中 岑生 ,  村上 啓吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-290008
公開番号（公開出願番号）：特開2005-061901
出願日： 2003年08月08日
公開日（公表日）： 2005年03月10日
要約：
【課題】測定時の外部環境による影響を受けずに測定でき、得られる診断データは任意の外部環境に補正できる電気機器の絶縁物診断方法を提供する。【解決手段】診断項目と、この診断項目と相関関係の強い複数の測定項目とを選定し、絶縁物サンプルから採取した診断項目と各測定項目の測定データをもとに診断項目と測定データとの相関関係を相関図に表し(S11)、診断項目と外部環境要因との関係を示す特性図または特性式を準備し(S12)、絶縁診断する測定対象絶縁物について、各測定項目毎に測定した診断用測定データをMT法を用いて1つ指標で表し、これに対応する診断項目の数値を予め作成しておいた相関図から読みとり(S13)、読みとった数値と外部環境要因との関係を特性図または特性式を用いて特性曲線に表し、外部環境要因の影響を考慮した診断項目の補正値を取得する(S14)。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
電気機器に使用される絶縁物の劣化を診断するための診断項目と、この診断項目と相関関係の強い複数の測定項目とを選定し、新品と使用品の絶縁物サンプルから、一定環境下において上記診断項目の測定データを採取し、通常環境下において上記各測定項目毎の測定データを採取し、MT(マハラノビス・タグチシステム)法を用いて上記各測定項目の測定データを1つの指標で表し、この1つの指標と上記診断項目の測定データとの相関関係を表す相関図を作成する第1のステップと、 上記診断項目とその診断項目に影響を及ぼす外部環境要因との関係を示す特性図または特性式を準備する第2のステップと、 絶縁診断する測定対象絶縁物について、上記各測定項目毎に測定した診断用測定データをMT法を用いて1つの指標で表し、この1つの指標に対応する上記診断項目の数値を上記第1のステップで予め作成しておいた上記相関図から読みとる第3のステップと、 上記第2のステップで予め準備しておいた上記特性図または特性式を用いて、上記第3のステップで得た診断項目の数値と上記外部環境要因との関係を示す特性曲線を作成し、上記外部環境要因の影響を考慮した絶縁診断時点での上記診断項目の補正値を取得する第4のステップとを備え、上記補正値を利用して絶縁物の劣化状況を診断することを特徴とする電気機器の絶縁診断方法。
IPC (3件)：
G01N17/00 ,  G01R31/12 ,  H02B3/00
FI (3件)：
G01N17/00 ,  G01R31/12 Z ,  H02B3/00 M
Fターム (9件)：
2G015AA06 ,  2G015CA04 ,  2G015CA07 ,  2G015CA12 ,  2G015CA20 ,  2G050AA07 ,  2G050DA01 ,  2G050EB02 ,  2G050EB10
引用特許：
出願人引用 (1件) 審査官引用 (4件)
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