特許
J-GLOBAL ID：200903057200374263
X線撮像方法
発明者：
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大島 陽一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-017803
公開番号（公開出願番号）：特開2004-223158
出願日： 2003年01月27日
公開日（公表日）： 2004年08月12日
要約：
【課題】被検体の被曝量を低減し、X線造影剤に対してより高感度に検査可能なX線撮像方法を提供する。【解決手段】X線を被検体に照射して被検体を透過してきた透過X線を用いて被検体内部を検査するX線撮像方法において、被検体にX線造影剤を投入する過程と、X線をフィルタに透過させたフィルタX線を被検体に照射する過程とを有する構成とする。【選択図】 図7
請求項（抜粋）：
X線を被検体に照射して被検体を透過してきた透過X線を用いて被検体内部を検査するX線撮像方法であって、
前記透過X線のエネルギ情報の内、前記被検体内部の検査対象物に応じた特定のエネルギ範囲の情報を利用して前記検査対象物を評価する過程を有することを特徴とするX線撮像方法。
IPC (2件)：
FI (7件)：
A61B6/03 320M
, A61B6/03 370G
, A61B6/03 373
, A61B6/03 375
, A61B6/00 300J
, A61B6/00 331E
, A61B6/00 333
4C093AA01
, 4C093AA22
, 4C093AA24
, 4C093CA34
, 4C093DA02
, 4C093EA07
, 4C093EA11
, 4C093FC04
, 4C093FD11
, 4C093FD13
