特許
J-GLOBAL ID：200903057210143375
センサ内蔵装置用較正装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大川 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-033896
公開番号（公開出願番号）：特開2008-197011
出願日： 2007年02月14日
公開日（公表日）： 2008年08月28日
要約：
【課題】設備の簡素化と作業負担の軽減とを実現しつつ高精度の較正データ取得が可能なセンサ内蔵装置用較正装置を提供すること。【解決手段】たとえば常温Txで取得した製品10の出力値Sxにより製品10の一点実測データS3を求める。また、製品10の各部回路1、2の特性を実測しておく。温度較正装置20は、これらの特性a、bから製品10の合成感度(c)を演算し、この合成感度(c)と上記一点実測データS3とにより、製品10の入出力特性をなす2点推定データ(S15、S175)を演算し、それを製品10の較正用データ記憶メモリに書き込む。製品10は、検出した出力信号(S)をこの較正用データを用いて較正する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
検出すべき所定の物理量(T)の少なくとも所定の区間おいて物理量(T)にほぼ線形の関係をもつ検出信号(V)を出力する検出回路部と、入力された前記検出信号(V)に実質的に線形の関係をもつ出力信号(S)を出力する処理回路部と、予め記憶する所定の較正用データを用いて前記検出信号(V)を較正して前記出力信号(S)とする較正回路部とを有するセンサ内蔵装置へ前記較正用データを書き込むことにより前記センサ内蔵装置の較正を行うセンサ内蔵装置用較正装置において、
前記検出回路部に与えられる前記物理量(T)の所定値(Tx)を観測する較正用センサを有し、
前記物理量(T)の所定値(Tx)を前記較正用センサから読み込み、
予め取得されている前記物理量(T)と前記検出信号(V)との間の線形関係に相当する前記検出回路部の部品特性データと、前記検出回路部に前記物理量(T)の所定値(Tx)が与えられる場合に前記処理回路部が出力する前記出力信号(S)の値(Sx)とを前記センサ内蔵装置から読み込み、
前記部品特性データから前記センサ内蔵装置の感度(c)を演算し、
前記物理量(T)の所定値(Tx)とその時の前記出力信号(S)の値(Sx)とのペアからなる1点の座標データ(P)を求め、
前記感度(c)及び前記座標データ(P)から前記センサ内蔵装置の特性を規定する装置特性データを求めて前記較正用データとして前記センサ内蔵装置に記憶させることを特徴とするセンサ内蔵装置用較正装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
出願人引用 (1件)
審査官引用 (1件)
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集積回路
公報種別：公開公報
出願番号：特願2000-114913
出願人：株式会社日立製作所
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