特許

J-GLOBAL ID：200903057227522418

半導体レーザ素子の検査方法

発明者： 上田 禎亮 ,  辰巳 正毅
出願人/特許権者： シャープ株式会社
代理人 (1件)： 野河 信太郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-257167
公開番号（公開出願番号）：特開2006-073877
出願日： 2004年09月03日
公開日（公表日）： 2006年03月16日
要約：

【課題】安定な光出力特性を有し、かつ、実際のピックアップに使用した場合に雑音発生を抑えることができる半導体レーザ素子を簡易に選別することができる半導体レーザ素子の検査方法を提供すること。【解決手段】本発明の半導体レーザ素子の検査方法は、半導体レーザ素子の電流-光出力特性における変曲点での光出力値と、所定の基準値と比較することにより、素子の良否を判断することを特徴とする。【選択図】なし

請求項（抜粋）：

半導体レーザ素子の電流-光出力特性を測定し、 測定された電流-光出力特性における変曲点での光出力値と、所定の基準値と比較することにより、素子の良否を判断することを特徴とする半導体レーザ素子の検査方法。

IPC (1件)：

H01S 5/00

FI (1件)：

H01S5/00

Fターム (3件)：

5F173ZP06 ,  5F173ZQ10 ,  5F173ZR02

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 半導体レーザ素子
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-038561   出願人：三洋電機株式会社