特許

J-GLOBAL ID：200903057260591212

干渉システム

発明者： アリスタイド ドガリウ ,  ガブリエル ポペスキュ
出願人/特許権者： ルーセント テクノロジーズ インコーポレイテッド
代理人 (1件)： 三俣 弘文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-318358
公開番号（公開出願番号）：特開2002-181510
出願日： 2001年10月16日
公開日（公表日）： 2002年06月26日
要約：

【要約】【課題】 干渉システムを提供する。【解決手段】 第1と第2と第3の光ファイバと、第1と第2のカプラと、第1カプラは第1ファイバからの放射光を受光し、第2ファイバを介して第1放射部分を与え、第3を介して第2放射部分を第2カプラに与え、第2カプラからの放射光をそれぞれ受光するよう構成され、他方が受領するよう放射を送る第4、第5の光ファイバとを有する。

請求項（抜粋）：

(A)第1と第2と第3の光ファイバと、(B)第1と第2のカプラと、前記第1カプラは、第1ファイバからの放射光を受光し、第2ファイバを介して第1放射光部分を与え、第3ファイバを介して第2放射光部分を第2カプラに与え、(C)前記第2カプラからの放射光をそれぞれ受光するよう構成され、互いに相手に放射光を送る第4、第5の光ファイバとを有することを特徴とする干渉システム。

IPC (3件)：

G01B 9/02 ,  G01N 15/02 ,  G01J 9/02

FI (3件)：

G01B 9/02 ,  G01N 15/02 C ,  G01J 9/02

Fターム (5件)：

2F064FF03 ,  2F064GG03 ,  2F064GG12 ,  2F064GG24 ,  2F064HH01

引用特許：

審査官引用 (1件)

• フィルム厚の測定方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-224835   出願人：ヒューレット・パッカード・カンパニー