特許
J-GLOBAL ID:200903057354837983

被測定体の物理特性を決定する装置及び方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 石田 敬 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-064447
公開番号(公開出願番号):特開平8-271219
出願日: 1996年03月21日
公開日(公表日): 1996年10月18日
要約:
【要約】【課題】 被測定体の厚さ、群屈折率、表面までの距離等、被測定体の物理特性を高速で測定する。【解決手段】 この装置は、可変光路遅延要素(54)を共有するように組み合わされたノンコヒーレント光学干渉計(53)と、コヒーレント光学干渉計(55)を含んでいる。厚さ測定については、例えば個体又は液体、水平面に沿って移動する液体、平面を流下する液体等の厚みを測定することが出来る。また、多重層の厚さ測定も可能である。
請求項(抜粋):
コヒーレント光を発する光源を有し、コヒーレント光の干渉信号形成に適応する第1光学干渉計と、ノンコヒーレント光を発する光源を備え、被測定体の物理特性を示すノンコヒーレント光の干渉信号形成に適応し、被測定体の物理特性を決定するのに十分な距離を変位するように設けられた共通可変光路遅延要素を前記第1光学干渉計と共有するように、第1光学干渉計と組み合わされる第2光学干渉計と、前記可変光路遅延要素の変位の関数としてコヒーレント光の干渉信号を測定する手段と、前記コヒーレント光の干渉信号に基づいて、前記可変光路遅延要素の一定変位間隔毎にデータ採取用トリガ信号を発生する手段と、前記ノンコヒーレント光の干渉信号の振幅を測定する手段と、前記データ採取用トリガ信号を利用して、前記ノンコヒーレント光の干渉信号をサンプリングする手段と、サンプリングされたノンコヒーレント光の干渉信号から被測定体の物理特性を決定する手段とを備えた、被測定体の物理特性を決定する装置。
IPC (3件):
G01B 11/00 ,  G01B 11/06 ,  G01N 21/45
FI (4件):
G01B 11/00 G ,  G01B 11/00 B ,  G01B 11/06 G ,  G01N 21/45 A
引用特許:
審査官引用 (2件)

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