特許
J-GLOBAL ID:200903057593546907

実装済プリント基板自動検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 橘 哲男
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-085804
公開番号(公開出願番号):特開平7-273500
出願日: 1994年03月31日
公開日(公表日): 1995年10月20日
要約:
【要約】【目的】 リードのパッドからの浮きや、リードへの半田の乗りに対してもリードずれを正確に測定することができることである。【構成】 光切断法により測定物の体積重心を求め3次元方向へのプリント基板のパッドに対する実装されている電子部品のリードの位置ずれを測定する測定手段を具備した実装済プリント基板自動検査装置である。
請求項(抜粋):
光切断法により測定物の体積重心を求め3次元方向へのプリント基板のパッドに対する実装されている電子部品のリードの位置ずれを測定する測定手段を具備したことを特徴とする実装済プリント基板自動検査装置。
IPC (3件):
H05K 13/08 ,  G01B 11/24 ,  G01N 21/88
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 実装基板検査装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-191515   出願人:日本電気株式会社

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