特許
J-GLOBAL ID:200903057698382063
ターゲット装置及び三次元測量システム
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
相田 伸二 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-381500
公開番号(公開出願番号):特開2002-181546
出願日: 2000年12月15日
公開日(公表日): 2002年06月26日
要約:
【要約】【課題】 レーザを利用して高精度な測量を実現すること。【解決手段】 ターゲット部材2に、異なる色からなる複数の反射材5を配設し、反射したレーザが示す色によりターゲット部材2のどの位置で反射したものかを特定する。
請求項(抜粋):
ターゲット部材を有し、前記ターゲット部材に位置決め手段を設け、前記ターゲット部材に、反射するレーザの性状変化態様が異なる複数種類のレーザ性状変化部材を、各レーザ性状変化部材が前記位置決め手段に対して既知なる三次元位置関係をもつ形で配設して構成した、ことを特徴とするターゲット装置。
IPC (2件):
G01C 15/06
, G01C 15/00 103
FI (2件):
G01C 15/06 T
, G01C 15/00 103 D
引用特許:
審査官引用 (2件)
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測量用装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-138621
出願人:株式会社トプコン
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測量機用ターゲット
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-017748
出願人:株式会社ニコン
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