特許

J-GLOBAL ID：200903057718013736

イオン蓄積型質量分析装置

発明者： 高橋 利明 ,  板東 智美 ,  河原井 雅子
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  日立計測エンジニアリング株式会社
代理人 (1件)： 高田 幸彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-002385
公開番号（公開出願番号）：特開平9-190797
出願日： 1996年01月10日
公開日（公表日）： 1997年07月22日
要約：

【要約】【課題】本発明の目的は感度の質量依存性を改善するのに適したイオン蓄積型質量分析装置を提供することにある。【解決手段】リング電極5およびエンドキャップ電極4により形成される3次元四重極空間で生成した試料イオン8はその四重極空間内に次々と蓄積される。ここで、リング電極5の高周波電圧をFNF信号により制御すると、特定のイオンのみが蓄積される。この蓄積されたイオンはエンドキャップ4の高周波電圧をFNF信号で制御することにより電極外に放出され、デフレクタ10による偏向を受けてイオン検出器11に送られる。デフレクタ10への印加電圧はFNF信号により可変される。これによって、イオン検出器11における試料イオンの衝突位置を常に同一にすることができる。

請求項（抜粋）：

3次元四重極空間を形成してその中にイオンを蓄積するための手段と、その蓄積されたイオンを前記3次元空間から取り出すように質量掃引するための手段と、前記3次元空間から取り出されるイオンを検出するための手段と、前記イオン蓄積手段と前記イオン検出手段の間に配置されたイオンデフレクタと、該イオンデフレクタに前記質量掃引と同期した信号を与えるための手段とを備えたことを特徴とするイオン蓄積型質量分析装置。

IPC (3件)：

H01J 49/26 ,  H01J 49/22 ,  G01N 27/62

FI (3件)：

H01J 49/26 ,  H01J 49/22 ,  G01N 27/62 L

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 質量分析装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-313826   出願人：株式会社日立製作所
• 特開平2-103856
  
• 特開平2-103856