特許
J-GLOBAL ID：200903057763893992
基板の圧着状態検査装置
発明者：
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出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-299616
公開番号（公開出願番号）：特開2008-091843
出願日： 2006年10月04日
公開日（公表日）： 2008年04月17日
要約：
【課題】制御基板の端子電極に異方性導電膜を介して圧着されたフレキシブル基板の端子電極の圧着状態を精度良く検査する圧着状態検査装置を提供する。【解決手段】制御基板の端子電極に異方性導電膜を介して圧着されたフレキシブル基板の端子電極の圧着状態を検査する圧着状態検査装置において、フレキシブル基板2の上方から平行光16を照射する同軸落射照明13と、圧着時に異方性導電膜中の導電粒子19がフレキシブル基板2の裏面に形成された端子電極17に押し付けられることにより生じる端子電極17の変形状態を、フレキシブル基板2を介して表面から撮像する撮像手段と、撮像されたフレキシブル基板2の端子電極17の画像データを画像処理する画像処理部とを設け、処理画像データ中に設けた判定枠32内のフレキシブル基板2の端子電極17の変形状態データを、予め設定された良否判定データと比較して圧着状態の良否判定をする。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
制御基板の端子電極に異方性導電膜を介して圧着されたフレキシブル基板の端子電極の圧着状態を検査する圧着状態検査装置において、前記フレキシブル基板の上方から平行光を照射する同軸落射照明と、圧着時に異方性導電膜中の導電粒子が前記フレキシブル基板の裏面に形成された端子電極に押し付けられることにより生じる前記フレキシブル基板の端子電極の変形状態を、前記フレキシブル基板を介して表面から撮像する撮像手段と、前記撮像されたフレキシブル基板の端子電極の画像データを画像処理する画像処理部とを設け、
前記画像処理部で画像処理された画像データ中に設定した判定枠内のフレキシブル基板の端子電極の変形状態データを、予め設定された良否判定データと比較することにより圧着状態の良否判定をするようにしたことを特徴とするフレキシブル基板と制御基板の圧着状態検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01L21/60 321Y
, H05K3/36 A
5E344AA01
, 5E344AA22
, 5E344BB02
, 5E344BB05
, 5E344CC23
, 5E344CD04
, 5E344DD06
, 5E344EE21
, 5E344EE23
