試験容易化回路

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松本眞吉
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-060688
公開番号（公開出願番号）：特開平6-273492
出願日： 1993年03月19日
公開日（公表日）： 1994年09月30日
要約：

【要約】【目的】実装基板に設けられた配線の導通試験の所要時間を短縮する。【構成】内部電極211〜21nに沿ってプローブ線22が設けられ、プローブ線22が外部電極11に接続され、各内部電極211〜21nに対してスイッチ素子231〜23nが設けられている。スイッチ素子231〜23nは、その一端が内部電極211〜21nに接続され、他端が共にプローブ線22に接続され、制御入力端が選択回路24の出力端に接続されている。外部電極13にセットパルスを供給すると、内部電極211と311とがそれぞれ外部電極11と14とに導通され、外部電極12に1個のクロックパルスを供給する毎に、外部電極11と14とに導通される内部電極211〜21nと311〜31mとの組合わせが変化し、クロックパルスをnm-1個供給すると、全ての組合わせが外部電極11と14とから得られる。

請求項（抜粋）：

複数の半導体チップ(2、3)がその内部電極(211〜21n)を介して接合される実装基板(1)上の半導体チップ搭載領域外に第1外部電極(T1〜Tr)が設けられ、該実装基板に設けられた異なる半導体チップ間の内部電極間配線、及び、該内部電極と該第1外部電極との間の配線の導通試験を容易化する試験容易回路において、該実装基板上の該半導体チップ搭載領域外に設けられた第2外部電極(11、14)と、該内部電極に沿って設けられ、該第2外部電極に接続されたプローブ線(22、32)と、各該内部電極に対して設けられ、一端が該内部電極に接続され、他端が該プローブ線に接続され、制御入力端に供給される選択信号に応じて該一端と該他端間をオン・オフするスイッチ素子(231〜23n)と、該実装基板上の該半導体チップ搭載領域外に設けられた第3外部電極(12、13)と、入力端が該第3外部電極に接続され、出力端が該制御入力端に接続され、該第3外部電極に供給される制御信号に応じて該選択信号を生成し出力する選択回路(24、34)と、を有することを特徴とする試験容易回路。

引用特許：

審査官引用 (4件)

ロボツトの防振装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-204081 出願人：横河電機株式会社
特開昭62-246486
特開昭59-161286

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