特許
J-GLOBAL ID：200903057978432538
米粒品質判定装置
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小橋 信淳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-167179
公開番号（公開出願番号）：特開2000-356599
出願日： 1999年06月14日
公開日（公表日）： 2000年12月26日
要約：
【要約】【課題】 従来の米粒品質判定装置において要望された改善点をコスト上昇を招くことなくかつ大型化することなく満足することができる構成を備えた米粒品質判定装置を提供する。【解決手段】 米粒の外形に沿う形状の米粒収容部2Bが所定数形成され、少なくとも片面に分離可能な透明樹脂を配置した試料皿2と、上記米粒収容部2Bに収容されている米粒に対する光照射用光源、米粒からの反射光または透過光を撮像面に結像させる結像光学系および結像光学系に入射した光量を光電変換するための光電変換部とを備え、上記米粒の上下両側に配置されている光学センサ1Bと、上記光学センサ1Bを上下両側で一体的に連動させる駆動制御部1B2と、上記米粒の比較判定用設定値および上記光電変換部からの信号データを記憶する記憶部5が入力側に、そして、比較判定結果を表示する表示部1Dが出力側にそれぞれ設けられ上記設定値に対する上記光電変換部からの信号データを演算処理して設定値と比較することで比較結果を表示する制御部1Cとを備えていることを特徴とする。
請求項（抜粋）：
米粒の外形に沿う形状の米粒収容部が所定数形成され、少なくとも片面に分離可能な透明樹脂を配置した試料皿と、上記米粒収容部に収容されている米粒に対する光照射用光源、米粒からの反射光または透過光を撮像面に結像させる結像光学系および結像光学系に入射した光量を光電変換するための光電変換部とを備え、上記米粒の上下両側に配置されている光学センサと、上記光学センサを上下両側で一体的に連動させる駆動制御部と、上記米粒の比較判定用設定値および上記光電変換部からの信号データを記憶する記憶部が入力側に、そして、比較判定結果を表示する表示部が出力側にそれぞれ設けられ上記設定値に対する上記光電変換部からの信号データを演算処理して設定値と比較することで比較結果を表示する制御部とを備えてなることを特徴とする米粒品質判定装置。
Fターム (11件)：
2G051AA04
, 2G051AB02
, 2G051CA03
, 2G051CA07
, 2G051CB01
, 2G051CB02
, 2G051CD03
, 2G051EA11
, 2G051EA17
, 2G051EB01
, 2G051FA01
審査官引用 (3件)
-
特開昭59-023248
-
米粒検査装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平8-011013
出願人：松下電工株式会社
-
特開昭59-023248
前のページに戻る
