特許

J-GLOBAL ID：200903058038393590

端子接続構造、該構造を用いた電子デバイス測定治具、及び電子デバイス測定装置

発明者： 山岸 祐一
出願人/特許権者： アンリツ株式会社
代理人 (1件)： 西村 教光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-350702
公開番号（公開出願番号）：特開平11-183563
出願日： 1997年12月19日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：

【要約】【課題】 電子デバイスの端子を信号ラインに短距離で安定して接触でき、電子デバイスの電気特性を精度良く測定できること。【解決手段】 基板6の信号ライン6aには、保持部材11により所定角度αの傾斜を有する接点部材10が設けられる。電子デバイス1の端子2の端部2daが接点部材10に接触すると、保持部材11が撓み接点部材10を信号ライン6a方向に押しつけ、端子2は接点部材10を介して信号ライン6aに短距離でかつ安定して接触することができる。信号ライン6aは外部導出され測定部によって電子デバイス1の電気特性を測定する。

請求項（抜粋）：

電子デバイスに信号を入出力するための複数の信号ライン(6a)と、前記信号ラインの上に配置され、前記電子デバイスの複数の端子に接触して該電子デバイスの端子と信号ラインが対応して電気的導通を図るための複数の接点部材(10)と、前記信号ラインに対し前記複数の接点部材を所定角度(α)傾斜して保持し、上方から前記電子デバイスの端子により押圧的に接触されることにより、前記端子と信号ラインが前記接点部材を介して導通するように撓む可撓性を有する保持部材(11)と、を具備することを特徴とする端子接続構造。

IPC (4件)：

G01R 31/26 ,  G01R 1/04 ,  G01R 31/00 ,  H01R 4/48

FI (5件)：

G01R 31/26 J ,  G01R 31/26 Z ,  G01R 1/04 A ,  G01R 31/00 ,  H01R 4/48 C

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 高周波半導体装置の測定治具
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-222767   出願人：三菱電機株式会社
• 特開昭64-079669
  
• 電子部品用コネクタ
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-269915   出願人：株式会社テセック
• 特開昭63-206671