特許
J-GLOBAL ID:200903058246665161

金属上の塗膜厚測定方法及び装置並びに塗装金属体の製 造方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-044426
公開番号(公開出願番号):特開平5-240632
出願日: 1992年03月02日
公開日(公表日): 1993年09月17日
要約:
【要約】【目的】 金属上の塗膜厚高精度の測定技術を確立し、塗膜厚が正確に制御された塗装金属体の製造技術を提供する。【構成】 金属下地・めっき層・塗膜層からなる塗装金属体にX線を照射し、発生する二次X線強度と塗膜厚の理論的関係式を用い、塗膜種の変動による二次X線強度への影響を、塗膜構成元素種とその含有率に基づいて算出される補正値によって補正する。更に、塗装金属体の製造に際してこの測定技術を用いて塗膜厚を制御する。【効果】 種類が膨大である塗膜に対応し適切な補正が施され、測定精度が高まると共に、狭く限定された膜厚範囲にも応えられる製品が得られる。
請求項(抜粋):
金属面に塗布された塗膜面にX線を照射し発生する二次X線を測定し、塗膜厚及びめっき層厚と二次X線強度との関係式に基づいて塗膜厚を求める塗膜厚測定方法であって、塗膜のX線に対する吸収係数に依存する値を塗膜構成元素の含有率に基づいた計算によって求めることを特徴とする金属上の塗膜厚測定方法。
IPC (4件):
G01B 15/02 ,  B05C 9/10 ,  B05D 3/00 ,  B05D 7/14
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開昭64-041810
  • 特開昭61-084511
  • 特公昭62-026829
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