特許
J-GLOBAL ID：200903058452816303

磁気ディスク装置の寿命判定方式

発明者：
上野 政義

上野 政義 について

, 
矢島 博之

矢島 博之 について


出願人/特許権者：
日本電気株式会社

日本電気株式会社 について


代理人 (1件)： 後藤 洋介 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-237135
公開番号（公開出願番号）：特開2001-060370
出願日： 1999年08月24日
公開日（公表日）： 2001年03月06日
要約：
【要約】【課題】 磁気ディスク装置、例えば、ビデオ用磁気ディスク装置における装置寿命の判定を行う。【解決手段】 データリード時にECCエラーが発生したとき、同一トラック上の連続するセクタ上のECCエラー16,同一ゾーンのトラックを跨るECCエラー17及び、ゾーンを跨るECCエラー18の何れかに該当するか判断を行い、このECCエラーの物理的連続性を基に磁気ディスク装置の寿命判定を行う。
請求項（抜粋）：
磁気ディスク装置の寿命を判定する際に用いられ、データ読み込み時のECCエラー情報を得る第1のステップと、該ECCエラー情報に基づいて修復不能なECCエラーが同一トラック上に予め定められた第1のセクタ数(u)以上存在するか否かを判定する第2のステップと、前記修復不能なECCエラーが同一トラック上に前記第1のセクタ数(u)以上連続して存在すると前記磁気ディスク装置が寿命であると判定する第3のステップとを有することを特徴とする磁気ディスク装置の寿命判定方式。
IPC (6件)：
G11B 20/18 501 ,  G11B 20/18 550 ,  G11B 20/18 572 ,  G11B 20/18 ,  G11B 5/00 ,  G11B 19/02 501
FI (6件)：
G11B 20/18 501 Z ,  G11B 20/18 550 C ,  G11B 20/18 572 B ,  G11B 20/18 572 F ,  G11B 5/00 D ,  G11B 19/02 501 J
Fターム (7件)：
5D066DA03 ,  5D066DA12 ,  5D066DA16 ,  5D091AA10 ,  5D091BB03 ,  5D091FF02 ,  5D091FF03
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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