特許
J-GLOBAL ID:200903058826932680

光学測定装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 樺山 亨 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平6-155856
公開番号(公開出願番号):特開平7-301565
出願日: 1994年07月07日
公開日(公表日): 1995年11月14日
要約:
【要約】【目的】 完全拡散光の照明下における試料の光学特性の一様な測光強度を検出する光学測定装置を提供することを目的とする。【構成】 その周面に測定用開口14が設けられた積分球2と光源9とからなり、試料3を照明する拡散照明系と、一端が試料に対向し、他端が検出器20に接続された光学系とによって試料3の光学特性を測定する光学測定装置において、測定用開口14に着脱可能な光学系としてのレンズ式輝度計18を装着した。
請求項(抜粋):
その周面に測定用開口が設けられた積分球と光源とからなり、試料を照明する拡散照明系と、一端が上記試料に対向し、他端が検出器に接続された光学系とによって上記試料の光学特性を測定する光学測定装置において、上記一端と上記試料との距離の変化に依存せずに上記試料の測光強度を検出可能な上記光学系が上記測定用開口に装着されたことを特徴とする光学測定装置。
引用特許:
審査官引用 (3件)
  • 特開昭63-305224
  • 携帯可能な分光光度計
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-124966   出願人:エックス-ライトインコーポレイテッド
  • 特開昭63-175744

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