特許
J-GLOBAL ID：200903058867146303
パラメータ調節方法及び装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-213069
公開番号（公開出願番号）：特開平11-051625
出願日： 1997年08月07日
公開日（公表日）： 1999年02月26日
要約：
【要約】【課題】 モデルベーストマッチングにて物体の姿勢を検出するに当り、パラメータを効率的に決定するパラメータ調節方法及び装置を提供する。【解決手段】 検出プロセスKとは別のプロセスPにてパラメータの調整を行ない、パラメータであるエッジ検出は過不足ない閉曲線数をもとにし、パラメータである許容値はオペレータが把握しやすい単位(pixel や%など)に変換する。
請求項（抜粋）：
モデルベーストマッチングにより物体の姿勢を検出するに当り、検出プロセス中に用いられるパラメータの決定は、上記検出プロセスとは別のプロセスにて行ない、上記パラメータのうちエッジしきい値は、多すぎず少なすぎない閉曲線数となるように決定し、上記パラメータのうち許容値はオペレータが把握しやすい単位に変換するようにしたパラメータ調節方法。
IPC (3件)：
G01B 11/26
, G06T 1/00
, G06T 7/20
G01B 11/26 H
, G06F 15/62 380
, G06F 15/70 400
