特許
J-GLOBAL ID:200903058932534049

フォトレジスト単量体とその製造方法、フォトレジスト共重合体とその製造方法、フォトレジスト組成物、フォトレジストパタ-ン形成方法、および、半導体素子。

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 荒船 博司 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-238931
公開番号(公開出願番号):特開2000-086726
出願日: 1999年08月25日
公開日(公表日): 2000年03月28日
要約:
【要約】【課題】遠紫外線(DUV)領域の光源を利用したフォトリソグラフィー工程で使用可能なフォトレジスト単量体と、これを用いたフォトレジスト共重合体、及び、フォトレジスト組成物を提供する。【解決手段】下記(1)で示されるフォトレジスト単量体、及び、これを含むフォトレジスト共重合体である。【化1】前記式で、Rは、C1-C10の置換または非置換された直鎖または側鎖アルキルか、C1-C10の置換または非置換されたエーテルか、C1-C10の置換または非置換されたエステル、或いは、C1-C10の置換または非置換されたケトンであり、X及びYは、それぞれCH2、CH2CH2、酸素、または硫黄であり、iは0以上2以下のある定数である。
請求項(抜粋):
下記式(1)で示されることを特徴とするフォトレジスト単量体。【化1】(前記式で、Rは、C1-C10の置換または非置換された直鎖または側鎖アルキルか、C1-C10の置換または非置換されたエーテルか、C1-C10の置換または非置換されたエステル、或いは、C1-C10の置換または非置換されたケトンであり、X及びYは、それぞれCH2、CH2CH2、酸素、または硫黄であり、iは0以上2以下のある定数である。)
IPC (2件):
C08F 32/00 ,  G03F 7/039 601
FI (2件):
C08F 32/00 ,  G03F 7/039 601
引用特許:
審査官引用 (1件)

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