特許
J-GLOBAL ID:200903059010913926
p型III族ナイトライド化合物半導体およびその製造方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
藤島 洋一郎
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-135406
公開番号(公開出願番号):特開平10-326911
出願日: 1997年05月26日
公開日(公表日): 1998年12月08日
要約:
【要約】【課題】 結晶性および電気伝導性を向上させると共に、結晶の成長面内における組成比やp型不純物濃度を均一とする。【解決手段】 AlGaN混晶よりなる厚さ1〜100nm程度の第1の層11と、Mgが添加されたp型GaNよりなる厚さ1〜100nm程度の第2の層12とを交互に複数積層する。各層11,12はそれぞれ薄いので、第1の層11がMgを含まず第2の層12がAlを含まなくても全体としてはp型AlGaN混晶としての性質を有する。積層に際してはAlの原料とMgの原料とを時間的に分離して供給するので、良好な結晶の成長を妨害するAlの原料とMgの原料との反応を防止できる。よって、良好な結晶を成長させることができる。
請求項(抜粋):
ガリウム,アルミニウム,ホウ素およびインジウムからなる群のうちの少なくとも1種のIII族元素と、窒素と、マグネシウム,亜鉛および炭素からなる群のうちの少なくとも1種のp型不純物とを含むp型III族ナイトライド化合物半導体であって、組成あるいは含有するIII族元素の種類とp型不純物濃度とが互いに異なる第1の層と第2の層とを交互に複数層それぞれ備えたことを特徴とするp型III族ナイトライド化合物半導体。
IPC (4件):
H01L 33/00
, H01L 21/203
, H01L 21/205
, H01S 3/18
FI (4件):
H01L 33/00 C
, H01L 21/203 M
, H01L 21/205
, H01S 3/18
引用特許:
審査官引用 (1件)
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窒化物半導体素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願平9-285404
出願人:日亜化学工業株式会社
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