特許
J-GLOBAL ID:200903059107036059

超音波診断装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉田 研二 ,  石田 純
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-093397
公開番号(公開出願番号):特開2006-212445
出願日: 2006年03月30日
公開日(公表日): 2006年08月17日
要約:
【課題】超音波画像に含まれるスペックル(スペックルパターン)の細かさを定量化し、組織診断に役立てる。【解決手段】超音波画像上において関心領域が設定され、その関心領域内の画像に対して、閾値をスキャンさせながら二値化処理が実行される。各閾値ごとの二値化画像に対して高輝度の島の個数が演算され、そのヒストグラムとしてスペックル評価グラフが作成される。そのスペックル評価グラフは組織性状を反映したものであり、そのグラフの形態を数値解析することによって組織診断が可能となる。二値化処理に先立って、スペックルを強調する処理(ベース成分を除外する処理)を施すのが望ましい。また、その処理前の画像とその処理後の画像とを同時表示するようにしてもよい。【選択図】図5
請求項(抜粋):
超音波画像に対して、スペックルに重畳したベース成分を除去する前処理を実行するフィルタと、 前記前処理後の超音波画像に対して、スペックルパターンを解析する解析手段と、 を含むことを特徴とする超音波診断装置。
IPC (1件):
A61B 8/00
FI (1件):
A61B8/00
Fターム (21件):
4C601BB02 ,  4C601BB03 ,  4C601DD18 ,  4C601EE04 ,  4C601JB31 ,  4C601JB45 ,  4C601JB48 ,  4C601JC04 ,  4C601JC06 ,  4C601JC11 ,  4C601JC12 ,  4C601JC13 ,  4C601JC19 ,  4C601JC20 ,  4C601JC37 ,  4C601KK12 ,  4C601KK13 ,  4C601KK18 ,  4C601KK25 ,  4C601KK31 ,  4C601KK33
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (4件)
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