特許
J-GLOBAL ID:200903059118321774
基板検査装置
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
谷 義一 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平9-027651
公開番号(公開出願番号):特開平10-221400
出願日: 1997年02月12日
公開日(公表日): 1998年08月21日
要約:
【要約】【課題】 装置の構造を簡略化することができるとともに接続端子部の被検査基板に対する位置決めを容易に行うことができること。【解決手段】 ヘッド48および50に支持される導体板28もしくは絶縁板26が、試験電流もしくは試験電圧が供給されるプリント配線基板78に電気的に接続される相対向する二つの電極面を有する被検査基板10の一方の電極面10Aに選択的に当接されて電気的な導通性もしくは絶縁性の検査が行われるもの。
請求項(抜粋):
一対の対向する配線部にそれぞれ互いに電気的に導通状態とされる電極面を有する被検査基板における一方の配線部の電極面が接続される端子部が設けられ、供給される検査信号を該一方の配線部の電極面に選択的に送出する基板と、前記被検査基板における他方の配線部の電極面に選択的に当接し該電極面に接続される検査回路を導通状態とする第1の部材、および、該電極面に選択的に当接し該電極面の電極相互間における電路を電気的に絶縁状態とする第2の部材と、前記第1の部材および第2の部材を選択的に前記被検査基板における他方の配線部の電極面に対して当接状態もしくは離隔状態をとらせる移動手段と、前記移動手段に、前記被検査基板に対する第1の検査が行われるとき、前記第1の部材を被検査基板における他方の配線部の電極面に対して当接する動作を行わせ、前記被検査基板に対する第2の検査が行われるとき、前記第1の部材を被検査基板における他方の配線部の電極面に対して離隔させ、前記第2の部材を被検査基板における他方の配線部の電極面に対して当接する動作を行わせる制御部と、を具備して構成される基板検査装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01R 31/02
, G01R 31/28 K
引用特許:
審査官引用 (2件)
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プリント基板検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-053485
出願人:株式会社日本リース
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特開昭63-181394
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